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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法已作废

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value

标准号：GB 5594.4-1985

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基本信息

标准号：GB 5594.4-1985

发布时间：1985-11-27

实施时间：1986-12-01

首发日期：1985-11-27

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：徐延献

作废日期：2016-01-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类： >>>>L32

ICS分类： 31.030

提出单位：中华人民共和国电子工业部

起草单位：天津大学

归口单位：中华人民共和国电子工业部

发布部门：国家标准局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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