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钇钡铜氧（123 相）超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法现行

The DC electric resistance test method for the critical temperature Tc of a YBa2Cu3O7-δ superconducting thin film

标准号：GB/T 17711-1999

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基本信息

标准号：GB/T 17711-1999

发布时间：1999-03-01

实施时间：1999-10-01

首发日期：1999-03-13

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类： 31.030

起草单位：中国科学院物理研究所超导国家重点实验室

归口单位：全国超导标准化技术委员会

发布部门：国家质量技术监督局

主管部门：中国科学院

标准简介

本标准规定了钇钡铜氧(123相）超导薄膜临界温度Tc、超导转变宽度ΔT、零电阻温度Tco的直流电阻试验方法。本标准适用于膜厚为(100~500)nm的钇钡铜氧(123相)超导薄膜的临界温度Tc、超导转变宽度ΔT，零电阻温度Tco的测定。本标准不适用于多相和半导体型的钇钡铜氧超导薄膜上述参数的测定。

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