纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 现行
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method
标准号：GB/T 23413-2009
基本信息
标准号：GB/T 23413-2009
发布时间：2009-04-01
实施时间：2009-12-01
首发日期：2009-04-01
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍
出版机构：中国标准出版社
标准分类： X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
ICS分类：无损检测
提出单位：全国微束标准化技术委员会
起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院
归口单位：全国微束标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
标准摘要
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本标准的附录Ａ 为规范性附录。 本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。 本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。 |
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