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半导体二极管热阻抗测试方法现行

Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

标准号：SJ 20788-2000

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基本信息

标准号：SJ 20788-2000

发布时间：2000-10-20

实施时间：2000-10-20

首发日期：

出版单位：工业电子出版社查看详情>

起草人：王长福、顾振球、易本健

出版机构：工业电子出版社

标准分类： >>>>L5961

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布部门：中华人民共和国信息产业部

标准简介

本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻抗的测试。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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