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砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法现行

Quantitative determination of AB microscopic defect density in gallium arsenide single crystal

标准号：SJ 20843-2002

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基本信息

标准号：SJ 20843-2002

发布时间：2002-10-30

实施时间：2003-03-01

首发日期：

出版单位：工业电子出版社查看详情>

起草人：

出版机构：工业电子出版社

标准分类：电子技术专用材料

起草单位：中国电子科技集团公司第四十六所

标准简介

本标准规定了砷化镓单晶中AB微缺陷密度的定量检验方法。本标准适用于晶向为

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