微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 现行
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准号：GB/T 28634-2012
基本信息
标准号：GB/T 28634-2012
发布时间：2012-07-31
实施时间：2013-02-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：曾毅、李香庭、吴伟
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 电化学、热化学、光学式分析仪器
ICS分类：有关化学分析方法的其他标准
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
标准简介
本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:———定量分析原理;———本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;———仪器的一般要求;———有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
标准摘要
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则编写。 本标准使用翻译法等同采用ISO22489:2006《微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析》(英文版)。 本标准做了下列编辑性修改: 用10-6替代ppm。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。 本标准主要起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。 本标准主要起草人:曾毅、李香庭、吴伟。 |
标准目录
| 前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 缩略语 1 4 定量过程 1 5 实验报告 6 附录A (资料性附录) 物理效应和校正 8 附录B(资料性附录) 不同校正方法概述 9 附录C (规范性附录) 有化学效应的k 比值测量 10 参考文献 11 |
推荐检测机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐认证机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐培训机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
© 2018 北京寰标伟业科技发展有限公司版权所有并保留所有权利。
ICP备案证书号：京ICP备17031081号-1 客服电话：010-62050868
