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红外焦平面阵列特性参数测试技术规范已作废

The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

标准号：GB/T 17444-1998

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基本信息

标准号：GB/T 17444-1998

发布时间：1998-07-03

实施时间：1999-05-01

首发日期：1998-07-30

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2014-04-15

出版机构：中国标准出版社

标准分类：红外器件

ICS分类：光电子学、激光设备

起草单位：中国科学院上海技术物理研究所

归口单位：信息产业部（电子）

发布部门：国家质量技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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