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半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法现行

Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

标准号：GB/T 15651.3-2003

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基本信息

标准号：GB/T 15651.3-2003

发布时间：2003-01-01

实施时间：2004-08-01

首发日期：2003-11-24

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：陈兰、那仁、王守华

出版机构：中国标准出版社

标准分类：光电子器件组合

ICS分类：光电子学、激光设备

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。

替代情况

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半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 现行