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表面化学分析 X射线光电子能谱确定本底的程序现行

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds

标准号：GB/Z 32490-2016

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基本信息

标准号：GB/Z 32490-2016

发布时间：2016-02-24

实施时间：2017-01-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

起草单位：清华大学、中山大学

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

标准简介

本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。

标准摘要

本指导性技术文件按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本指导性技术文件使用翻译法等同使用ISO/TR 18932：2005《表面化学分析 X射线光电子能谱确定本底的程序》。
本指导性技术文件由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC 38）提出并归口。
本指导性技术文件负责起草单位：清华大学、中山大学。
本指导性技术文件主要起草人：李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法。

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