一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 现行
Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization
标准号：GB/Z 21738-2008
基本信息
标准号：GB/Z 21738-2008
发布时间：2008-05-08
实施时间：2008-11-01
首发日期：2008-05-08
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：李建奇
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 光学仪器综合
ICS分类：光学和光学测量综合
提出单位：全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会
起草单位：中国科学院物理研究所电子显微镜实验室
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：中国科学院
标准简介
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理、术语及定义、仪器和设备、样品制备、测量程序、结果表示和试验报告等内容。本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分、截面及界面原子排布等。
标准摘要
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本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会提出。 本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会归口。 本指导性技术文件起草单位:中国科学院物理研究所电子显微镜实验室。 本指导性技术文件主要起草人:李建奇。 |
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