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硅外延片 现行

Silicon epitaxial wafers

标准号:GB/T 14139-2019

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基本信息

标准号:GB/T 14139-2019
发布时间:2019-06-04
实施时间:2020-05-01
首发日期:
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:张海英、李慎重、蒋玉龙、骆红、胡金枝、卢立延、李素青
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 元素半导体材料
ICS分类:半导体材料
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:浙江金瑞泓科技股份有限公司、南京国盛电子有限公司、上海合晶硅材料有限公司、有色金属技术经济研究院、有研半导体材料有限公司
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员

标准简介

本标准规定了硅外延片的牌号和分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。 本标准适用于在直径不大于150 mm的N型和P型硅抛光片衬底上生长的硅外延片。

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