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半导体器件机械和气候试验第1部分:总则现行

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

标准号：GB/T 4937.1-2006

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基本信息

标准号：GB/T 4937.1-2006

发布时间：2006-08-23

实施时间：2007-02-01

首发日期：1985-02-06

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：陈海蓉、崔波

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体分立器件综合

ICS分类：半导体器件

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。

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