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ASTM F1467-18现行

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (≈10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

标准编号： ASTM F1467-18

发布时间：2018/3/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：American Society for Testing and Materials

标准页数：18

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