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CEI EN 60749-6 : 2004现行

DISPOSITIVI A SEMICONDUTTORE - METODI PER PROVE CLIMATICHE E MECCANICHE - PARTE 6: IMMAGAZZINAMENTO AD ALTA TEMPERATURA

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-6 : 2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：12

标准简介

Defines the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

等同采用的国际标准

IEC 60749-6 : 2.0 - Identical

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