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ASTM F1192-11(2018)现行

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

标准编号： ASTM F1192-11(2018)

发布时间：2018/3/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：American Society for Testing and Materials

标准页数：11

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