DIN EN 60749-44 (2017-04)现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 44: Neutron Beam Irradiated Single Event Effect (see) Test Method For Semiconductor Devices (iec 60749-44:2016)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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基本信息
标准编号： DIN EN 60749-44 (2017-04)
发布时间：2017/4/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
标准页数：22
标准简介
2017 [01/04/2017]DRAFT 2014 [01/08/2014]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-44:2016 - Identical
