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KS C IEC 62047-18:2016废止

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials

出版：Korean Standards Association

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基本信息

标准编号： KS C IEC 62047-18:2016

发布时间：2016/12/29 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Korean Standards Association

标准页数：12