
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
出版:Comitato Elettrotecnico Italiano

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La presente Norma sostituisce completamente la Norma CEI EN 60749-17:2004-11 che rimane applicabile fino al 02-05-2022.
EN IEC 60749-17:2019 - Identical
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