
Dispositivi A Semiconduttore - Metodi Per Prove Climatiche E Meccaniche - Parte 6: Immagazzinamento Ad Alta Temperatura
出版:Comitato Elettrotecnico Italiano

专家解读视频
基本信息
标准编号: CEI EN 60749-6 Ed. 2 (2017)
标准类别:Standard
出版单位:Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数:12
标准简介
2ED 2017 [01/10/2017]1ED 2004 [01/03/2004]
标准备注
Classificazione CEI 47-17 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2004 Edition is valid until 07-04-2020. (12/2017)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-6:2017 - Identical