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IEC/TR 63133 Ed. 1.0现行

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

标准编号： IEC/TR 63133 Ed. 1.0

发布时间：2017/10/11 0:00:00

标准类别：TechnicalReport

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：22

标准简介

Describes a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level.

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