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ASTM F980-16现行

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

标准编号： ASTM F980-16

发布时间：2016/12/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：American Society for Testing and Materials

标准页数：7

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