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DIN EN 62878-1-1 (2016-03)现行

Device Embedded Substrate - Part 1-1: Generic Specification - Test Methods (iec 62878-1-1:2015)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 62878-1-1 (2016-03)

发布时间：2016/3/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：57

标准简介

2016 [01/03/2016]

标准备注

Supersedes DIN EN 62326-18. (04/2016)

本标准替代的旧标准

DIN EN 62326-18 (2013-07)

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