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CEI EN 60749-17 : 2004被替代

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 17: NEUTRON IRRADIATION

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-17 : 2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：12

标准简介

Defines to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment.

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

替代本标准的新标准

CEI EN IEC 60749-17 : 2019

等同采用的国际标准

EN 60749-17 : 2003 - Identical

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