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DS EN 62417:2010现行

Semiconductor Devices - Mobile Ion Tests For Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistors (Mosfets)

出版：Danish Standards

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基本信息

标准编号： DS EN 62417:2010

发布时间：2010/7/19 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Danish Standards

标准页数：16

标准简介

Specifies a wafer level test procedure to determine the amount of positive mobile charge in oxide layers in metal-oxide semiconductor field effect transistors.

DS EN 62417:2010现行

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