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NF EN 60749-38:2006被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

标准编号： NF EN 60749-38:2006

标准类别：MiscPublication

出版单位：Association Francaise de Normalisation

标准页数：12

标准简介

2006 PR [01/12/2006]

标准备注

Indice de classement: C96-022-38PR
PR NF EN 60749-38 December 2006.
(12/2006)

替代本标准的新标准

NF EN 60749-38:2008

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