当前位置： 首页 > 标准详情页

PD IEC TS 62132-9:2014现行

Integrated Circuits - Measurement Of Electromagnetic Immunity - Part 9: Measurement Of Radiated Immunity - Surface Scan Method

出版：British Standards Institution

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： PD IEC TS 62132-9:2014

发布时间：2014/9/30 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：British Standards Institution

标准页数：0

标准简介

Gives a test procedure, which defines a method for evaluating the effect of near electric, magnetic or electromagnetic field components on an integrated circuit (IC).

PD IEC TS 62132-9:2014现行

申请获取原文权限