
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films
出版:Polish Committee for Standardization

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基本信息
标准编号: PN EN 62047-17:2015
标准类别:Standard
出版单位:Polish Committee for Standardization
标准页数:36
标准简介
2015 [07/10/2015]
等同采用的国际标准
EN 62047-17:2015 - Identical