
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 26: Description And Measurement Methods For Micro Trench And Needle Structures
出版:Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息
标准编号: CEI EN 62047-26 Ed. 1 (2016)
标准类别:Standard
出版单位:Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数:36
标准简介
1ED 2016 [01/11/2016]
标准备注
Classificazione CEI 47-34. (12/2016)
等同采用的国际标准
EN 62047-26:2016 - Identical