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IEC 60749-13 Ed. 2.0现行

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 13: Salt atmosphere

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

标准编号： IEC 60749-13 Ed. 2.0

发布时间：2018/2/15 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：32

标准简介

Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion.

本标准替代的旧标准

IEC 60749-13 Ed. 1.0

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