CEI EN 60749-20 Ed. 2 (2010)现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
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基本信息
标准编号： CEI EN 60749-20 Ed. 2 (2010)
标准类别：Standard
出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数：34
标准简介
2ED 2010 [01/11/2010]1ED 2004 [01/03/2004]
标准备注
Classificazione CEI 47-25 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-20:2009 - Identical
