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EIA JESD 22-B108:2003被替代

Coplanarity Test For Surface-mount Semiconductor Devices

出版：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

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基本信息

标准编号： EIA JESD 22-B108:2003

发布时间：2003/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

标准页数：0

标准简介

Measures the deviation of the leads from the coplanarity for surface-mount semiconductor devices.

标准备注

Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)

本标准替代的旧标准

EIA JESD 22:1987

替代本标准的新标准

EIA JESD 22-B108:2010

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