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DIN EN 62047-18 (2011-06)被替代

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 18: Bending test methods of thin film materials (IEC 47F/76/CD:2011)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 62047-18 (2011-06)

发布时间：2011/6/1 0:00:00

标准类别：Draft

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：20

替代本标准的新标准

DIN EN 62047-18 (2014-04)

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