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PN EN 60749-38:2008现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-38:2008

发布时间：2008/12/8 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：28

标准简介

2008 [08/12/2008]

等同采用的国际标准

IEC 60749-38 Ed. 1.0 - Identical

EN 60749-38:2008 - Identical