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DS EN 62435-2 : 2017现行

ELECTRONIC COMPONENTS - LONG-TERM STORAGE OF ELECTRONIC SEMICONDUCTOR DEVICES - PART 2: DETERIORATION MECHANISMS

出版：Danish Standards

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基本信息

标准编号： DS EN 62435-2 : 2017

标准类别：Standard

出版单位：Danish Standards

标准页数：0

标准简介

Covers guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms.

等同采用的国际标准

IEC 62435-2 : 1ED 2017 - Identical

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