DS EN 60749-3:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Method - Part 3: External Visual Examination
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-3:2002
发布时间：2003/1/8 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：16
标准简介
Aims at verifying the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
EN 60749-3:2017 - Identical
