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EIA JESD 22 A108:2017现行

Temperature, Bias, And Operating Life

出版：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

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基本信息

标准编号： EIA JESD 22 A108:2017

标准类别：Standard

出版单位：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

标准页数：14

标准简介

F2017 [01/07/2017]E2016 [01/12/2016]D2010 [01/11/2010]C2005 [01/06/2005]B2000 [01/12/2000]A1991 [01/03/1991]

标准备注

Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)

本标准替代的旧标准

EIA JESD 22 A108:2016

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