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BIS IS 15474-3-7:2005 (R2016)现行

Dependability Management - Part 3: Application Guide - Section 7: Reliability Stress Screening Of Electronic Hardware

出版：Bureau of Indian Standard

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基本信息

标准编号： BIS IS 15474-3-7:2005 (R2016)

标准类别：Standard

出版单位：Bureau of Indian Standard

标准页数：0

标准简介

2005(R2016) [01/01/0001]2005 [01/01/0001]

本标准替代的旧标准

BIS IS 15474-1-7:2005

等同采用的国际标准

IEC 60300-3-7 : 1.0 - Identical

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