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NF EN 62417:2010现行

Semiconductor Devices - Mobile Ion Tests For Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistors (Mosfets)

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

标准编号： NF EN 62417:2010

发布时间：2010/11/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Association Francaise de Normalisation

标准页数：0

标准简介

2010 [01/11/2010]2008 PR [01/12/2008]

标准备注

Indice de classement: C80-203. PR NF EN 62417 December 2008. (12/2008)

本标准替代的旧标准

NF EN 62417:2008

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