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VDI/VDE 5575 Blatt 2 : 2019现行

X-ray optical systems - Measurement methods; Measurement set-up and methods for the evaluation of X-ray optical systems

出版：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

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基本信息

标准编号： VDI/VDE 5575 Blatt 2 : 2019

发布时间：2019/12/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

标准页数：0

标准简介

The guideline describes the measurement setup and the methods for the evaluation of X-ray optical systems.

本标准替代的旧标准

VDI/VDE 5575-2 : 2015

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