DS EN 60749-17:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 17: Neutron Irradiation
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-17:2003
发布时间：2003/7/8 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：12
标准简介
Defines the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment.
等同采用的国际标准
EN 60749-17:2003 - Identical
