IEC 60749-3 : 2.0现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 3: EXTERNAL VISUAL EXAMINATION
出版：International Electrotechnical Committee
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Aims to verify that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
NEN EN IEC 60749-3 : 2017 - Identical
EN 60749-3 : 2017 - Identical
DIN EN 60749-3 : 2003 - Identical
PN EN 60749-3 : 2017 - Identical
DS EN 60749-3 : 2017 - Identical
BS EN 60749-3 : 2002 - Identical
CEI EN 60749-3 : 2004 - Identical
PN EN 60749-3 : 2017 - Identical
DS EN 60749-3 : 2017 - Identical
BS EN 60749-3 : 2017 - Identical
SAC GB/T 4937-3 : 2012 - Identical
NEN EN IEC 60749-3 : 2017 - Identical
CEI EN 60749-3 : 2004 - Identical
NBR IEC 60749-3 : 2011 - Identical
DIN EN 60749-3 : 2003 - Identical
