DS EN 60749-44:2016现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 44: Neutron Beam Irradiated Single Event Effect (See) Test Method For Semiconductor Devices
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-44:2016
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：24
标准简介
2016 [04/01/2017]
等同采用的国际标准
EN 60749-44:2016 - Identical
EN 60749-44 : 2016 - Identical
BIS IS/IEC 61558-2-6 : 1ED 2016 - Identical
