IEC 62415 Ed. 1.0现行
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
出版：International Electrotechnical Committee
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基本信息
标准编号： IEC 62415 Ed. 1.0
发布时间：2010/5/19 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：International Electrotechnical Committee
标准页数：22
标准简介
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
等同采用的国际标准
BS EN 62415:2010 - Identical
