当前位置： 首页 > 标准详情页

CEI EN 60749-11 : 2004现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 11: RAPID CHANGE OF TEMPERATURE - TWO-FLUID-BATH METHOD

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： CEI EN 60749-11 : 2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：16

标准简介

Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method.

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

等同采用的国际标准

IEC 60749-11 : 1.0 - Identical

申请获取原文权限