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14/30299002 DC : 0被替代

BS EN 60749-44 - SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 44: NEUTRON BEAM IRRADIATED SINGLE EVENT EFFECT (SEE) TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

出版：British Standards Institution

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基本信息

标准编号： 14/30299002 DC : 0

标准类别：Draft

出版单位：British Standards Institution

标准页数：19

标准简介

BS EN 60749-44.

替代本标准的新标准

BS EN 60749-44 : 2016

14/30299002 DC : 0被替代

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