DS EN 60749-25:2004现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 25: Temperature Cycling
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-25:2004
发布时间：2004/3/15 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：20
标准简介
Specifies a test procedure for determining the ability of semiconductor devices and components and/or board assemblies to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes.
等同采用的国际标准
EN 60749-25:2003 - Identical
