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PN EN 60749-44 : 2017现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 44: NEUTRON BEAM IRRADIATED SINGLE EVENT EFFECT (SEE) TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-44 : 2017

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：0

等同采用的国际标准

BIS IS/IEC 61558-2-6 : 1ED 2016 - Identical

EN 60749-44 : 2016 - Identical

PN EN 60749-44 : 2017现行

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