NEN EN IEC 60749-29:2011现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-Up Test
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-29:2011
发布时间：2011/9/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：26
标准简介
Defines the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. Also defines a method for determining integrated circuit (IC) latchup characteristics and specifies latch-up failure criteria.
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-29:2011 - Identical
