NEN EN IEC 62047-2:2006现行
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 2: Tensile Testing Method Of Thin Film Materials
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 62047-2:2006
发布时间：2006/10/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：25
标准简介
2006 [01/10/2006]
等同采用的国际标准
IEC 62047-2 Ed. 1.0 - Identical
