PN EN 60749-27 : 2008 AMD 1 2013现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-27 : 2008 AMD 1 2013
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：0
等同采用的国际标准
IEC 60749-27 : 2.1 - Identical
IEC 60749-27 : 2.1 - Identical
EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012 - Identical
